Sistema Y Metodo Para Ajuste De Parametro De Circuito De Memoria Basado En Resistencia.
El ajuste de parámetros de circuitos de memoria es una tarea esencial en la optimización del rendimiento de los sistemas de almacenamiento de datos. En este sentido, el método basado en resistencia se ha convertido en una técnica cada vez más popular en la industria.
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Este método se basa en la medición de la resistencia eléctrica del circuito de memoria y su relación con los parámetros de operación, como la velocidad de lectura y escritura, la densidad de bits y la fiabilidad del sistema. A partir de estas mediciones, se pueden ajustar los valores de los parámetros para optimizar el rendimiento y la eficiencia del circuito.
El sistema utilizado para llevar a cabo este proceso se compone de un conjunto de herramientas de evaluación y ajuste de parámetros, que permiten a los ingenieros de memoria hacer mediciones precisas y ajustar los valores de los parámetros de forma rápida y eficiente.
Una de las ventajas de este método es que es muy preciso y permite ajustar los parámetros de forma individual para cada circuito de memoria. Esto significa que se pueden lograr mejoras significativas en el rendimiento de sistemas de almacenamiento con una inversión relativamente baja en tiempo y recursos.
Además, el método basado en resistencia es muy versátil y puede aplicarse a una amplia gama de circuitos de memoria, incluyendo aquellos basados en tecnologías NAND y NOR. Esto lo convierte en una herramienta muy valiosa para la industria de la tecnología de la información, donde la eficiencia y el rendimiento son fundamentales para el éxito.
En resumen, el método basado en resistencia es una técnica muy efectiva para ajustar los parámetros de circuitos de memoria y optimizar su rendimiento. Con la ayuda de un sistema adecuado, los ingenieros de memoria pueden lograr mejoras significativas en la eficiencia y la fiabilidad de los sistemas de almacenamiento de datos, lo que puede marcar la diferencia en un mercado cada vez más competitivo.
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Descripcion: Se describen sistemas y metodos de ajuste de parametros de circuito de memoria basado en resistencia; en una modalidad particular, un metodo para determinar un conjunto de parametros de circuito de memoria basado en resistencia incluye seleccionar un primer parametro basado en una primera restriccion de diseño predeterminada del circuito de memoria basado en resistencia y seleccionar un segundo parametro basado en una segunda restriccion de diseño predeterminada del circuito de memoria basado en resistencia; el metodo adema incluye ejecutar una metodologia iterativa para ajustar al menos un parametro de circuito de una porcion del amplificador de deteccion del circuito de memoria basado en resistencia mediante la asignacion y ajuste selectivos de una propiedad fisica de al menos un parametro de circuito para lograr un valor de margen de amplificador de deteccion deseado sin cambiar el primer parametro o el segundo parametro.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Sistema Y Metodo Para Ajuste De Parametro De Circuito De Memoria Basado En Resistencia. en México
Solicitud: MX/a/2010/011624
Fecha de Presentacion: 2010-10-22
Solicitante(s): QUALCOMM INCORPORATED.*; 5775 Morehouse Drive, 92121, San Diego, California, E.U.A.
Inventor(es): SEI SEUNG YOON, SEUNG H. KANG, SEONG-OOK JUNG, JI-SUM KIM, JEE-HWAN SONG, 5775 Morehouse Drive, 92121, San Diego, California, E.U.A.
Clasificacion: G06F17/50 (2006-01) referente a Sistema Y Metodo Para Ajuste De Parametro De Circuito De Memoria Basado En Resistencia.