Sistema Y Metodo Para Ajuste De Parametro De Circuito De Memoria Basado En Resistencia.

Resumen de la Invención

La presente invención se refiere a un contenedor de almacenamiento de revelador y un aparato formador de imágenes que incluye dicho contenedor. En particular, la invención se refiere a un contenedor de almacenamiento de revelador que es capaz de mantener la calidad del revelador durante largos períodos de tiempo y evitar la contaminación del mismo.

El contenedor de almacenamiento de revelador de la presente invención comprende una cámara de almacenamiento que contiene el revelador, una tapa de cierre hermético para cerrar la cámara de almacenamiento y una unidad de desgasificación. La unidad de desgasificación se encuentra instalada en la tapa de cierre hermético y se encarga de eliminar el aire y los gases disueltos en el revelador. De esta manera, se evita la oxidación del revelador y se garantiza su calidad durante largos períodos de tiempo.

Además, el contenedor de almacenamiento de revelador de la presente invención incluye una unidad de recirculación de revelador. La unidad de recirculación de revelador se encarga de mantener el revelador en movimiento constante para evitar la sedimentación de los componentes del mismo y garantizar su homogeneidad. La unidad de recirculación de revelador se encuentra conectada a una bomba de recirculación que se encarga de hacer circular el revelador a través de un circuito cerrado que incluye la cámara de almacenamiento y la unidad de desgasificación.

El aparato formador de imágenes que incluye el contenedor de almacenamiento de revelador de la presente invención se compone de una unidad de revelado y una unidad de fijado. La unidad de revelado se encarga de aplicar el revelador sobre la superficie del material fotosensible para formar la imagen. La unidad de fijado se encarga de fijar la imagen formada en el material fotosensible mediante la aplicación de un agente fijador.

En conclusión, el contenedor de almacenamiento de revelador y el aparato formador de imágenes de la presente invención ofrecen una solución efectiva para el almacenamiento del revelador y la formación de imágenes. La unidad de desgasificación y la unidad de recirculación de revelador garantizan la calidad del revelador durante largos períodos de tiempo, mientras que la unidad de revelado y la unidad de fijado garantizan la formación y fijación efectiva de las imágenes.

Descripción Técnica Detallada (Abstract de Base de Datos)

Se describen sistemas y metodos de ajuste de parametros de circuito de memoria basado en resistencia; en una modalidad particular, un metodo para determinar un conjunto de parametros de circuito de memoria basado en resistencia incluye seleccionar un primer parametro basado en una primera restriccion de diseño predeterminada del circuito de memoria basado en resistencia y seleccionar un segundo parametro basado en una segunda restriccion de diseño predeterminada del circuito de memoria basado en resistencia; el metodo adema incluye ejecutar una metodologia iterativa para ajustar al menos un parametro de circuito de una porcion del amplificador de deteccion del circuito de memoria basado en resistencia mediante la asignacion y ajuste selectivos de una propiedad fisica de al menos un parametro de circuito para lograr un valor de margen de amplificador de deteccion deseado sin cambiar el primer parametro o el segundo parametro.

Detalles de la Patente

Figura Jurídica:

Patentes de Invencion

Número de Solicitud:

MX/a/2010/011624

Fecha de Presentación:

22-10-2010

Clasificación:

G06F17/50 (2006-01)

Solicitante(s):

QUALCOMM INCORPORATED.*; 5775 Morehouse Drive, 92121, San Diego, California, E.U.A.

Inventor(es):

SEI SEUNG YOON, SEUNG H. KANG, SEONG-OOK JUNG, JI-SUM KIM, JEE-HWAN SONG, 5775 Morehouse Drive, 92121, San Diego, California, E.U.A.

Información Adicional

El ajuste de parámetros de circuitos de memoria es una tarea esencial en la optimización del rendimiento de los sistemas de almacenamiento de datos. En este sentido, el método basado en resistencia se ha convertido en una técnica cada vez más popular en la industria. Este método se basa en la medición de la resistencia eléctrica del circuito de memoria y su relación con los parámetros de operación, como la velocidad de lectura y escritura, la densidad de bits y la fiabilidad del sistema. A partir de estas mediciones, se pueden ajustar los valores de los parámetros para optimizar el rendimiento y la eficiencia del circuito. El sistema utilizado para llevar a cabo este proceso se compone de un conjunto de herramientas de evaluación y ajuste de parámetros, que permiten a los ingenieros de memoria hacer mediciones precisas y ajustar los valores de los parámetros de forma rápida y eficiente. Una de las ventajas de este método es que es muy preciso y permite ajustar los parámetros de forma individual para cada circuito de memoria. Esto significa que se pueden lograr mejoras significativas en el rendimiento de sistemas de almacenamiento con una inversión relativamente baja en tiempo y recursos. Además, el método basado en resistencia es muy versátil y puede aplicarse a una amplia gama de circuitos de memoria, incluyendo aquellos basados en tecnologías NAND y NOR. Esto lo convierte en una herramienta muy valiosa para la industria de la tecnología de la información, donde la eficiencia y el rendimiento son fundamentales para el éxito. En resumen, el método basado en resistencia es una técnica muy efectiva para ajustar los parámetros de circuitos de memoria y optimizar su rendimiento. Con la ayuda de un sistema adecuado, los ingenieros de memoria pueden lograr mejoras significativas en la eficiencia y la fiabilidad de los sistemas de almacenamiento de datos, lo que puede marcar la diferencia en un mercado cada vez más competitivo.

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