Proceso Y Dispositivo Para Suprimir Los Reflejos Parasitos Durante La Inspeccion En Calor De Objetos Huecos Translucidos O Transparentes.
La inspección en calor de objetos huecos translúcidos o transparentes es una técnica que se utiliza para detectar defectos o irregularidades en materiales como vidrio, plástico o cerámica. Sin embargo, a menudo este proceso puede verse obstaculizado por los reflejos parasitarios, que pueden afectar la calidad de la imagen y dificultar la detección de defectos.
Para solucionar este problema, se ha desarrollado un proceso y dispositivo para suprimir los reflejos parasitarios durante la inspección en calor de objetos huecos translúcidos o transparentes. Este proceso se basa en la utilización de un sistema de iluminación y una cámara de alta resolución, que permiten capturar imágenes de alta calidad y reducir los reflejos.
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El dispositivo consta de una cámara de alta resolución y un sistema de iluminación que se coloca en el interior del objeto hueco. El sistema de iluminación está diseñado de tal manera que emite una luz difusa y uniforme, que permite iluminar todo el objeto de manera homogénea, evitando así los reflejos.
Además, el dispositivo cuenta con un sistema de procesamiento de imágenes que permite analizar y procesar las imágenes capturadas para detectar cualquier tipo de irregularidad o defecto. Este sistema de procesamiento de imágenes utiliza algoritmos avanzados que permiten detectar incluso los defectos más pequeños.
En conclusión, el proceso y dispositivo para suprimir los reflejos parasitarios durante la inspección en calor de objetos huecos translúcidos o transparentes es una solución innovadora que permite mejorar la calidad de las imágenes y facilitar la detección de defectos. Este dispositivo es especialmente útil en la industria del vidrio, plástico y cerámica, donde la detección de defectos es crucial para garantizar la calidad del producto final.
Algunas patentes que relacionadas son: * METODO PARA DISTRIBUIR LUZ, TAZON PARA DISTRIBUIR LUZ Y LAMPARA DE ALUMBRADO PUBLICO QUE ADOPTA EL MISMO.
* RODILLO DE ADHESIVO.
* CUANTIFICACION DE RESOLUCION VARIABLE Y VECTOR DIMENSIONAL.
* SISTEMA Y METODO PARA LA DISTRIBUCION Y ENTREGA DE NUMEROS DE IDENTIFICACION PERSONAL.
* CODIFICACION/DECODIFICACION DE DATOS DE PROGRAMA PERO NO DATOS PSI.
* DERIVADOS DE 1-BENCILINDOLE-2-CARBOXAMIDA.
* ARNES DE SEGURIDAD.
Descripcion: La invencion se refiere a un metodo para inspeccionar, por medio de al menos un sensor sensible infrarrojo, objetos huecos translucidos o transparentes (2) a alta temperatura que salen de diversas cavidades formadoras (4). La invencion se caracteriza porque el metodo para inspeccionar un objeto consiste en eliminar la radiacion infrarroja integrada para el sensor sensible, la radiacion infrarroja reflejada por dicho objeto y derivada de fuentes infrarrojas en la proximidad de dicho objeto.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Proceso Y Dispositivo Para Suprimir Los Reflejos Parasitos Durante La Inspeccion En Calor De Objetos Huecos Translucidos O Transparentes. en México
Solicitud: MX/a/2007/012348
Fecha de Presentacion: 2007-10-04
Solicitante(s):
Inventor(es): GUILLAUME BATHELET, 120 Rue de Coteau, 69280, Marcy L'Etoile, FRANCIA
Clasificacion: G01N21/90 (2006-01) referente a Proceso Y Dispositivo Para Suprimir Los Reflejos Parasitos Durante La Inspeccion En Calor De Objetos Huecos Translucidos O Transparentes.