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Metodo De Inspeccion De Estructura De Panal.

Descripcion: Un metodo de inspeccion de una estructura de panal comprende el paso de iluminar una cara extrema 15 de una estructura de panal 11 como un blanco de inspeccion por una fuente de luz 1; condensar, por medio de una lente de condensacion 2 como una lente que tiene un angulo de observacion, luz la cual es emitida desde la fuente de luz 1 hasta la cara extrema 15, que pasa a trave de las celulas de la estructura de panal 11 e irradiada desde la otra cara extrema 16; recibir la luz condensada sobre la lente de condensacion 2 por una camara 3; someter la luz recibida por la camara 3 al procesamiento de imagenes por medio de un procesador de imagenes 4, especificando por lo tanto la posicion irradiada de la luz sobre la otra cara extrema 16; y calcular la inclinacion de las celulas 14 de la estructura de panal 11 de la posicion irradiada de la luz sobre la otra cara extrema 16, y la direccion de la inclinacion. Se describe el metodo de inspeccion de la estructura de panal que puede medir eficientemente la inclinacion de las celulas de la estructura de panal y la direccion de la inclinacion.

Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Metodo De Inspeccion De Estructura De Panal. en México

Solicitud: MX/a/2010/002871

Fecha de Presentacion: 2010-03-16

Solicitante(s): NGK INSULATORS, LTD.; 2-56, Suda-Cho, Mizuho-ku, 467-8530, Nagoya City, Aichi-prefecture, JAPON

Inventor(es): TAKAYOSHI AKAO, AKIHIRO MIZUTANI, KENSUKE TANAKA, c/o NGK Insulators, Ltd., 2-56, Suda-Cho, Mizuho-ku, 467-8530, Nagoya City, Aichi-prefecture, JAPON

Clasificacion: G01B11/26 (2006-01), H04N7/18 (2006-01) referente a Metodo De Inspeccion De Estructura De Panal.



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