Metodo Para Estimar Aceptacion De Deposicion Por Laser Y Aparato Para Tal Metodo.
En el mundo de la fabricación de materiales y dispositivos, el proceso de deposición por láser es un método clave para crear películas delgadas y recubrimientos. La deposición por láser implica la creación de una capa delgada de material en la superficie de un sustrato mediante la aplicación de un haz de láser de alta energía. Sin embargo, debido a la complejidad de este proceso, puede ser difícil determinar si una deposición por láser ha sido exitosa.
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Es por eso que un grupo de inventores ha desarrollado un método para estimar la aceptación de la deposición por láser, así como un aparato para llevar a cabo este método. La patente se titula "Método para estimar la aceptación de deposición por láser y aparato para tal método".
El método involucra la medición de la reflectividad de la superficie de la muestra después de la deposición por láser. La reflectividad se mide utilizando un haz de luz que se dirige hacia la muestra y se refleja de vuelta al detector. La cantidad de luz que se refleja varía según la calidad de la deposición por láser, lo que permite estimar la aceptación de la deposición.
El aparato para llevar a cabo este método incluye una fuente de luz, un detector y un dispositivo para mover la muestra en relación con el haz de luz. El detector está configurado para medir la cantidad de luz reflejada por la muestra y proporcionar un valor de reflectividad. El dispositivo de movimiento de la muestra permite que la muestra sea escaneada en diferentes posiciones para obtener una medida de la reflectividad en toda su superficie.
Este método y aparato para estimar la aceptación de la deposición por láser tienen aplicaciones en la fabricación de dispositivos electrónicos, ópticos y biomédicos. Al permitir una evaluación rápida y precisa de la calidad de la deposición por láser, se puede mejorar la eficiencia y la calidad de los procesos de fabricación. Además, esto puede reducir los costos asociados con la producción de películas delgadas y recubrimientos, lo que puede hacer que estos materiales sean más accesibles para una variedad de aplicaciones. En resumen, esta patente representa un avance significativo en la tecnología de deposición por láser y tiene el potencial de tener un impacto positivo en una amplia gama de campos.
Algunas patentes que relacionadas son: * ARREGLO RELACIONADO CON UN SEPARADOR PARA LA LIMPIEZA DE TAL SEPARADOR.
* PROCESO PARA PREPARAR DERIVADOS DE 1-HALO-2,7-NAFTIRIDINIL.
* MODULADORES HETEROCICLICOS DEL RECEPTOR SELECTIVO DEL SUBTIPO ALFA DE GABA.
* ADHESIVOS CONDUCTORES Y ARTICULOS BIOMEDICOS QUE LOS INCLUYEN.
* PLACA DE SOPORTE DE GUARNICION DE FRENOS.
* METODO Y APARATO PARA CONTROLAR EL TIEMPO DE RETENCION EN UN TUBO DE RETENCION DE CALENTAMIENTO POR INFUSION.
* DERIVADOS DE INDOL-2-CARBOXAMIDA 5 SUBSTITUIDOS.
Descripcion: La invencion se refiere a la aceptacion/rechazo de una condicion de deposicion que es estimada detectando una cantidad exotermica de una porcion de deposicion 3 usando un sensor de haz infrarrojo 2 durante la deposicion por laser de un material de resina 4 que tiene transmisibilidad a un haz laser y un material de resina 5 que tiene absorbencia al haz laser L. La condicion exotermica de la porcion de deposicion es detectada usando un sensor de haz infrarrojo que se iguala con una longitud de onda de un haz infrarrojo que tiene un factor de transmision alto de las caracteristicas de transmision del haz infrarrojo de la resina transmisible para estimar si o no la energia conveniente es aplicada a la porcion de deposicion y si o no la porcion de deposicion esta formada. La cantidad exotermica de la resina transmisible es detectada por un sensor de haz infrarrojo 2A para estimar la aceptacion o rechazo de la porcion de deposicion incluso cuando la energia aplicada cambia.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Metodo Para Estimar Aceptacion De Deposicion Por Laser Y Aparato Para Tal Metodo. en México
Solicitud: PA/a/2006/006353
Fecha de Presentacion: 2006-06-05
Solicitante(s):
Inventor(es): TADASHI KAWAGOE, YASUNORI KAWAMOTO, Denso Corporation, 1-1 Showa-cho, 448-8661, Kariya-city, Aichi Pref., JAPON
Clasificacion: B23K26/06 (2006-01), G01J1/46 (2006-01) referente a Metodo Para Estimar Aceptacion De Deposicion Por Laser Y Aparato Para Tal Metodo.