Metodo Y Aparato Para Utilizar Correlaciones De Muestras De Chip En Una O Mas Operaciones De Procesamiento De SeÑales Recibidas.
La presente invención se refiere a un método y aparato para utilizar correlaciones de muestras de chip en una o más operaciones de procesamiento de señales recibidas. En particular, la invención se enfoca en el procesamiento de señales de radiofrecuencia (RF) recibidas, pero también puede aplicarse a señales de otros tipos.
El método y aparato de la presente invención aprovechan la correlación de muestras de chip para mejorar la calidad de la señal recibida y, por ende, la eficiencia del procesamiento de dicha señal. La correlación de muestras de chip se refiere a la comparación de las muestras de una señal recibida en diferentes instantes de tiempo para determinar si tienen una relación estadística significativa entre sí.
El método de la presente invención comienza con la recepción de una señal de RF y la conversión de dicha señal en una señal digital. A continuación, se realiza una operación de correlación de muestras de chip para determinar la relación estadística entre las muestras de la señal recibida en diferentes instantes de tiempo. Si se determina que la relación estadística es significativa, se procede a utilizar dicha correlación de muestras de chip en una o más operaciones de procesamiento de la señal recibida.
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Las operaciones de procesamiento de señales que pueden beneficiarse del uso de correlaciones de muestras de chip incluyen la demodulación de la señal recibida, la decodificación de la señal recibida y la detección de errores en la señal recibida. En cada una de estas operaciones, el uso de correlaciones de muestras de chip puede mejorar la calidad de la señal procesada y, por ende, la eficiencia del procesamiento de dicha señal.
El aparato de la presente invención incluye un dispositivo de recepción de señales de RF, un conversor de señales analógicas a digitales, un procesador de señales digitales y un dispositivo de salida de señales procesadas. El procesador de señales digitales incluye un módulo de correlación de muestras de chip que realiza la operación de correlación de muestras de chip descrita anteriormente.
En resumen, la presente invención proporciona un método y aparato para utilizar correlaciones de muestras de chip en una o más operaciones de procesamiento de señales recibidas. El uso de correlaciones de muestras de chip mejora la calidad de la señal procesada y, por ende, la eficiencia del procesamiento de dicha señal. La invención puede aplicarse a señales de RF y a señales de otros tipos.
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Descripcion: Un receptor de comunicaciones inalambrico obtiene mejor desempeño en ciertas condiciones de desvanecimiento rapido basado una o ma operaciones de procesamiento de las señales recibidas en correlaciones de muestras de chip post-concentracion (post-despreading) en lugar de correlaciones de ruido post-concentracion (pos-despreading), pero conserva la informacion de escalamiento soft mediante la determinacion de uno o ma factores de escalamiento que relacionan las correlaciones de las muestras de chip con las correlaciones de ruido. Por medio de ejemplos no limitativos, un circuito receptor RAKE generalizado puede basar la generacion de pesos combinados sobre correlaciones de muestras de chip en lugar de en correlaciones de ruido de simbolos piloto porst/concentracion (post-despreading), pero escala los pesos combinados como una funcion de uno o ma factores de escalamiento, o, equivalente, escala los valores combinados generados a partir de pesos combinados. Escalamiento similar puede hacerse con respecto a los pesos combinados del filtro de ecualizacion de chip en un circuito receptor de ecualizacion de chip. Adema, se puede mejorar la estimacion de la relacion señal a interferencia (SIR) en terminos de respuesta de desvanecimiento rapido mediante el uso de correlaciones de muestras de chip, preservando al mismo tiempo el escalamiento apropiado.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Metodo Y Aparato Para Utilizar Correlaciones De Muestras De Chip En Una O Mas Operaciones De Procesamiento De SeÑales Recibidas. en México
Solicitud: MX/a/2007/015714
Fecha de Presentacion: 2007-12-11
Solicitante(s):
Inventor(es): GREGORY E. BOTTOMLEY, TRACY FULGHUM, 5913 Rustic Wood Lane, 27713, Durham, NC, E.U.A.
Clasificacion: H04B1/707 (2006-01), H04L25/03 (2006-01) referente a Metodo Y Aparato Para Utilizar Correlaciones De Muestras De Chip En Una O Mas Operaciones De Procesamiento De SeÑales Recibidas.