Medicion In Situ De Parametros Fisicos.
La medición in situ de parámetros físicos es una patente innovadora que se enfoca en la obtención de mediciones precisas y en tiempo real de los parámetros físicos que se encuentran en un ambiente determinado. Esta tecnología permite medir la temperatura, la presión, la humedad y la velocidad del viento, entre otros parámetros, de manera rápida y eficiente.
La patente utiliza sensores y dispositivos electrónicos para medir los parámetros físicos de manera inmediata y precisa. La información obtenida es transmitida a un sistema central de procesamiento de datos, donde se analiza y se convierte en datos útiles para su posterior uso.
La medición in situ de parámetros físicos es especialmente útil en la industria de la construcción, donde se requiere una medición precisa de los parámetros físicos en tiempo real para garantizar la seguridad y la calidad del trabajo. También se utiliza en la agricultura para medir la humedad del suelo y en la meteorología para medir la velocidad del viento y la temperatura.
La patente de medición in situ de parámetros físicos es una innovación que ofrece una solución eficaz y precisa para medir los parámetros físicos en tiempo real. Esta tecnología ofrece una serie de ventajas, como la reducción de los costos de medición y la mejora de la calidad del trabajo. Además, su fácil implementación hace que sea una solución ideal para la industria de la construcción y la agricultura.
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En resumen, la medición in situ de parámetros físicos es una patente innovadora que ofrece una solución eficaz y precisa para medir los parámetros físicos en tiempo real. Esta tecnología es una herramienta valiosa para la industria de la construcción, la agricultura y la meteorología, y su fácil implementación hace que sea una solución ideal para cualquier empresa que requiera mediciones precisas de parámetros físicos.
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Descripcion: Un dispositivo registrador de datos para la medicion in situ de uno o ma parametros fisicos que comprende una fuente de energia; uno o ma sensores para medir el uno o ma parametros fisicos; un almacen de datos para almacenar las representaciones de al menos alguno de los valores medidos del uno o ma parametros fisicos; logica de control configurada para escribir las representaciones de al menos algunos de los valores medidos al almacen de datos y configurada para leer los datos del almacen de datos) durante la transmision de datos; una antena; y un transmisor acoplado a la antena y configurado para transmitir los datos almacenados por transmision pasiva.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Medicion In Situ De Parametros Fisicos. en México
Solicitud: MX/a/2008/014060
Fecha de Presentacion: 2008-11-03
Solicitante(s): CAMBRIDGE TEMPERATURE CONCEPTS LIMITED; Unit 23, Cambridge Science Park, CB4 0EY, Milton Road, Cambridge, REINO UNIDO
Inventor(es): SHAMUS HUSHEER, Hughes Hall, CB1 2EW, Mortimer Road, Cambridge, REINO UNIDO
Clasificacion: A61B10/00 (2006-01), A61B5/00 (2006-01) referente a Medicion In Situ De Parametros Fisicos.