Dispositivo Para Comparar La Intensidad De Un (n) Haz (haces) De Luz De Inspeccion, Respecto A Otro De Referencia.
La presente invención se refiere a un dispositivo para comparar la intensidad de un haz o haces de luz de inspección respecto a otro de referencia. Este dispositivo ha sido diseñado para ser utilizado en diversos campos, como la industria automotriz, la electrónica y la manufactura.
El objetivo principal de este dispositivo es permitir una medición precisa y rápida de la intensidad de la luz emitida por un haz o haces de inspección, en comparación con un haz de referencia. Esto es particularmente importante en situaciones en las que se requiere una alta precisión y uniformidad en la iluminación de la pieza a inspeccionar.
El dispositivo se compone de un conjunto de elementos ópticos, electrónicos y mecánicos que permiten la medición de la intensidad de los haces de luz. En su forma más básica, el dispositivo consta de una fuente de luz de referencia, un sensor de luz y un circuito electrónico de control.
La fuente de luz de referencia emite un haz de luz de intensidad conocida, que se utiliza como referencia para la medición de la intensidad de los haces de inspección. El sensor de luz se coloca en una posición donde pueda medir la intensidad de los haces de inspección y de referencia.
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El circuito electrónico de control se encarga de recibir las señales del sensor de luz y procesarlas para calcular la intensidad de los haces de inspección. En particular, el circuito compara la intensidad de los haces de inspección con la intensidad del haz de referencia y calcula la relación entre ellas.
Además, el dispositivo cuenta con una serie de ajustes y controles que permiten adaptarlo a diferentes situaciones de iluminación y a diferentes tipos de haces de luz. Esto incluye ajustes para el ángulo de incidencia de la luz, la distancia entre el sensor y la pieza a inspeccionar, y la sensibilidad del sensor de luz.
En resumen, el dispositivo para comparar la intensidad de un haz o haces de luz de inspección respecto a otro de referencia es una solución innovadora y eficiente para medir la intensidad de los haces de luz en situaciones de alta precisión y uniformidad. Su diseño modular y adaptable lo hace ideal para su uso en una amplia variedad de aplicaciones en la industria y la manufactura.
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Descripcion: Se describe un dispositivo que compara longitud de onda, un haz por ejemplo parcialmente absorbido (reflejado), respecto a otro por ejemplo de referencia. El dispositivo cuenta con un solo detector optico. La seleccion de tiempos del detector optico esta controlada por medio de un obturador. La separacion de ambas señales electricas provenientes por le canal de salida del fotomultiplicador, puede ser regulada, controlada y medida por ejemplo por un demultiplexor analogico. Adema este dispositivo en su modalidad de analizador de absorcion, puede realizar analisis de muestras solidas, liquidas, gaseosas que no emitan radiacion y si lo hacen esta radiacion sea continua en el tiempo. Incluso su estudio se puede extender al estudio de plasmas.
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Dispositivo Para Comparar La Intensidad De Un (n) Haz (haces) De Luz De Inspeccion, Respecto A Otro De Referencia. en México
Solicitud: PA/a/2005/011037
Fecha de Presentacion: 2005-10-14
Solicitante(s):
Inventor(es): MANUEL CORTeS RUBIO, STEPHEN MUHL SAUNDERS, Primer Retorno, Canal Nacional Manzana C, Casa 72, 04480, Ciudad de México, MEXICO
Clasificacion: G01J3/08 (2006-01), G01J3/427 (2006-01), G02F2/00 (2006-01) referente a Dispositivo Para Comparar La Intensidad De Un (n) Haz (haces) De Luz De Inspeccion, Respecto A Otro De Referencia.