Un Aparato Optico Para Observar Detalles Estructurales Milimetricos O Submilimetricos De Un Objeto Con Un Comportamiento Especular.
La tecnología de observación ha avanzado enormemente en los últimos años, y los científicos e investigadores están constantemente buscando nuevas formas de examinar objetos a nivel microscópico. Una de las últimas innovaciones en este campo es un aparato óptico diseñado específicamente para observar detalles estructurales milimétricos o submilimétricos de un objeto con un comportamiento especular.
Este dispositivo utiliza una luz polarizada para iluminar el objeto en cuestión, lo que permite obtener una imagen clara y detallada de su superficie. La luz incidente se refleja en la superficie del objeto y es recogida por una lente óptica situada en el interior del aparato. La lente transforma la luz reflejada en una imagen que puede ser analizada y estudiada con gran detalle.
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El aparato óptico también incluye un sistema de enfoque automático que ajusta la distancia entre la lente y el objeto para garantizar que la imagen sea siempre nítida y clara. Además, el dispositivo está equipado con una serie de filtros para eliminar cualquier interferencia o ruido visual que pueda afectar la calidad de la imagen.
Este nuevo aparato óptico es especialmente útil para la observación de objetos con un comportamiento especular, como superficies metálicas o vidrios, que suelen ser difíciles de examinar con otros métodos de observación. Su capacidad para observar detalles estructurales a nivel microscópico es invaluable en una amplia gama de aplicaciones, desde la fabricación de componentes electrónicos hasta la investigación en ciencias de materiales y biología.
En resumen, el aparato óptico para observar detalles estructurales milimétricos o submilimétricos de un objeto con un comportamiento especular es una patente innovadora que ofrece una nueva forma de explorar y analizar objetos a nivel microscópico. Su capacidad para obtener imágenes claras y detalladas hace que sea una herramienta esencial para cualquier investigador o científico que busque estudiar objetos a nivel microscópico.
Algunas patentes que relacionadas son: * DISPOSITIVO DE ILUMINACION MODULAR EN ESTADO SOLIDO.
* MEZCLA DE MATERIAL DE MOLDEO QUE TIENE FLUIDEZ MEJORADA.
* METODOS Y SISTEMAS PARA EL MANEJO DE HFN EN TRANSFERENCIA INTER-ESTACIONES BASE EN REDES DE COMUNICACION MOVIL.
* CIRCUITO REGULADOR DE DOS HILOS PARA UNA LAMPARA FLUORESCENTE COMPACTA DE TORNILLO.
* METODO Y APARATO PARA HIDROLIZAR MATERIAL CELULOSICO.
* CONVERTIDOR DE SEÑALES DE VIDEO, DISPOSITIVO DE PRESENTACION VISUAL DE VIDEO Y METODO DE CONVERSION DE SEÑALES DE VIDEO.
* GRANULACION EN HUMEDO UTILIZANDO UN AGENTE SECUESTRANTE DE AGUA.
Descripcion: Un aparato de observacion, por reflejo, de los detalles estructurales de un objeto (2) que exhibe un comportamiento que es por lo menos parcialmente especular, localizado en un area de exposicion, la cual incluye: por lo menos una fuente de radiacion con una superficie de emision (6) que posee por lo menos dos zonas diferentes (26, 27) que emiten corrientes de radiacion, en donde por lo menos una de las caracteristicas difiere de una zona a la siguiente; un sistema de proyeccion optica que esta localizado en linea con una fuente de radicacion en relacion con la zona de exposicion, en la trayectoria de la radiacion; un sistema de exposicion optica (18) diseñado para enlazar de manera optica la apertura de entrada (14) del sistema de proyeccion optica y la superficie de emision (6); una superficie de proyeccion (10) que esta enlazada opticamente con el objeto en la zona de exposicion; y cuya radiacion recibida depende de la desviacion en el objeto (2).
Figura Juridica: Patentes de Invencion, PATENTE:Un Aparato Optico Para Observar Detalles Estructurales Milimetricos O Submilimetricos De Un Objeto Con Un Comportamiento Especular. en México
Solicitud: MX/a/2010/004683
Fecha de Presentacion: 2010-04-28
Solicitante(s): SIGNOPTIC TECHNOLOGIES; 5 Allee du Lac d'Aiguebelette, 73370, Savoie Technolac, Le Bourget Du Lac, FRANCIA
Inventor(es): FRANCOIS BECKER, 38 Avenue Georges Pompidou, 69003, Lyon, FRANCIA
Clasificacion: G01N21/95 (2006-01), G01B11/25 (2006-01), G01B11/30 (2006-01), G01N21/956 (2006-01) referente a Un Aparato Optico Para Observar Detalles Estructurales Milimetricos O Submilimetricos De Un Objeto Con Un Comportamiento Especular.